Naturvetenskap och teknik
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
av David C. Cox
Utgiven av Morgan & Claypool Publishers
Format
Inbunden
Sidor
104 sidor
Språk
Engelska
Utgiven
okt. 2015
Jämför priser
Från 1391 kr
1 391 kr
1 579 kr
2 169 kr
Priserna uppdateras löpande från säkra och trygga butiker.
Om boken
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Fler böcker av David C. Cox
Liknande böcker
Alla i Naturvetenskap och teknikBästa pris1391 kr
Gå till butik